Исследована причина локальной нестабильности операционного усилителя массового применения. Установлено, что причина локальной нестабильности состоит в нелинейной зависимости емкостей транзисторов от напряжения в текущей рабочей точке, поэтому анализа запаса по фазе в начальной рабочей точке недостаточно. Отмечено, что традиционный анализ устойчивости не охватывает полноту проблемы. Для решения поставленной задачи исследованы численные подходы к анализу неустойчивости. Предложено решение задачи за счет увеличения объема анализа амплитудных и фазовых характеристик с проверкой анализом во временной области.

  Повний текст PDF - 512.37 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"