Приведены результаты исследований начальных стадий накопления и миграции изотопов водорода, образования радиационных повреждений кристаллической решетки в конструкционных материалах, облученных ионами H<^>+/D<^>+ с использованием методов термодесорбционной спектрометрии в сочетании с электронной микроскопией (ПЭМ и РЭМ) и измерением электрического сопротивления. Накопление дейтерия в материалах изучено в зависимости от дозы облучения ионами, температуры мишени при имплантации, энергии падающих ионов и предварительного облучения ионами He<^>+. Особое внимание уделено исследованиям тонких пленок конструкционных металлов, облученных ионами D<^>+ с пробегом больше толщины пленки ("прострел"), а также исследованию тонких металлических пленок с имплантированными ионами D<^>+ (пробег ионов сопоставим с толщиной пленки). Предложены возможные механизмы наблюдаемых процессов.

  Повний текст PDF - 649.552 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"