Methods of failure diagnostics of tantalum oxide-semiconductor capacitors with solid dielectric

Nevludov, I.; Gurin, V.; Gurin, D.


	Наукова періодика України		Сучасний стан наукових досліджень та технологій в промисловості

Nevludov I.
Methods of failure diagnostics of tantalum oxide-semiconductor capacitors with solid dielectric / I. Nevludov, V. Gurin, D. Gurin // Сучасний стан наукових досліджень та технологій в промисловості. - 2018. - № 4. - С. 57-61. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/dtssi_2018_4_9

Повний текст PDF - 467.905 Kb

Зміст випуску Google Scholar

Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:

Nevludov I.

Gurin V.

Gurin D.

Бібліографічний опис для цитування:

Nevludov I. Methods of failure diagnostics of tantalum oxide-semiconductor capacitors with solid dielectric / I. Nevludov, V. Gurin, D. Gurin // Сучасний стан наукових досліджень та технологій в промисловості. - 2018. - № 4. - С. 57-61. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/dtssi_2018_4_9.

Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"

Відділ інформаційно-комунікаційних технологій

Пам`ятка користувача