The impact of the method of underlay surface processing on the development of defects in epitaxial compositions in the course of silicon photo-transducers production

Nikonova, Z.; Nvebesnyuk, O.; Nikonova, A.; Ivanchikov, S.; Zahoda, A.


	Наукова періодика України		Біомедична інженерія та електроніка

Nikonova Z.
The impact of the method of underlay surface processing on the development of defects in epitaxial compositions in the course of silicon photo-transducers production / Z. Nikonova, O. Nvebesnyuk, A. Nikonova, S. Ivanchikov, A. Zahoda. // Біомедична інженерія та електроніка. - 2017. - № 3. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/biomedengelec_2017_3_6

Повний текст PDF - 651.558 Kb

Зміст випуску Google Scholar

Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:

Бібліографічний опис для цитування:

Nikonova Z. The impact of the method of underlay surface processing on the development of defects in epitaxial compositions in the course of silicon photo-transducers production / Z. Nikonova, O. Nvebesnyuk, A. Nikonova, S. Ivanchikov, A. Zahoda. // Біомедична інженерія та електроніка. - 2017. - № 3. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/biomedengelec_2017_3_6.

Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"

Відділ інформаційно-комунікаційних технологій

Пам`ятка користувача