Описано разработанное устройство для испытаний эмиттеров катодов ЭРД, приведены выявленные в ходе моделирования недостатки конструкции, а именно неравномерность распределения электрического и температурного полей по поверхности исследуемого образца, которая приводит к значительным погрешностям расчета плотности эмиссионного тока. Описаны пути модернизации стенда, которые позволяют снизить указанную погрешность до уровня менее 8 % в рабочем диапазоне температур 1200 - 1600 K. Показано, что реализация в конструкции устройства рекомендованных изменений привела к ожидаемым результатам. Проведенные исследования позволили создать высокоточный безинерциальный комплекс для исследования эмиссионных материалов катодов ЭРД, отвечающий всем современным требованиям.

  Повний текст PDF - 859.953 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"