За методами рентгенофазового та рентгеноструктурного аналізу (дифрактометри ДРОН-2, Huber G 670 Imaging Plate Guinier camera, Fe <$E K alpha>-, Cu <$E K alpha sub 1>-випромінювання) вивчено взаємодію компонентів у системі La - Cu - Si з вмістом La 33,3 ат. %. Знайдено нову тернарну фазу LaCu0,24-0,08Si1,76-1,92 (СТ <$E alpha>-ThSi2, ПГ I41/amd), підтверджено існування сполуки LaCuSi (СТ ZrBeSi, ПГ P63/mmc), для силіциду LaCu0,67Si1,33 (СТ AlB2, ПГ P6/mmm) виявлено значну область гомогенності LaCu0,82-0,42Si1,18-1,58. Розчинність третього компонента в бінарних сполуках LaCu2 (СТ AlB2) і LaSi2,00-1,95 (СТ <$E alpha>-ThSi2, ПГ I41/amd) не перевищує 5 та 1 ат. %, відповідно. Методом порошку вивчено структурні параметри для шести складів з дослідженого перерізу. Проаналізовано еволюцію найближчого координаційного оточення для атомів Лантану в структурах сполук зі збільшенням вмісту Силіцію.