Наукова періодика України | Eastern-European journal of enterprise technologies | ||
Берченко М. М. Дослідження поверхні пористого кремнію мас-спектроскопією вторинних іонів / М. М. Берченко, В. Ю. Єрохов, С. І. Нічкало, Є. І. Бережанський // Восточно-Европейский журнал передовых технологий. - 2014. - № 6(11). - С. 41-45. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Vejpte_2014_6%2811%29__9 За допомогою методів мас-спектрометрії вивчено кремнієві поверхні мультикристалічних підкладок для фотоелектричних перетворювачів, одразу після формування пористого кремнію та наступної гідрогенізації. Одержано мас-спектроскопічні характеристики кремнієвих поверхонь та їх 2D-іонні зображення, одержані на мас-спектрометрі TOF5 SIMS за допомогою струму вторинних іонів CH Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Берченко М. М. Дослідження поверхні пористого кремнію мас-спектроскопією вторинних іонів / М. М. Берченко, В. Ю. Єрохов, С. І. Нічкало, Є. І. Бережанський // Восточно-Европейский журнал передовых технологий. - 2014. - № 6(11). - С. 41-45. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Vejpte_2014_6(11)__9.Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |