Бібліографічний опис для цитування:
Білокінь С. О. Дослідження фізичних характеристик діелектричних поверхонь за допомогою діагностичного стенда на базі атомно-силового мікроскопа / С. О. Білокінь, М. О. Бондаренко, Ю. Ю. Бондаренко, В. С. Антонюк // Вісник Чернігівського державного технологічного університету. Серія : Технічні науки. - 2015. - № 2. - С. 176-181. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Vcndtn_2015_2_31.Відділ інформаційно-комунікаційних технологій |
Пам`ятка користувача |
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |