Надійність мікросхем є однією з ключових проблем мікроелектронної індустрії. Мікроелектронні пристрої повинні відповідати двом важливим критеріям: в середньому працювати протягом достатньо довгого часу і мати вузький розподіл часів до відмови. Досліджено статистику відмов ансамблю припойних з'єднань. На основі простої математичної моделі показано, що середній час до відмови, при фіксованій густині струму, не залежить від розміру припойного з'єднання, але при цьому ширина розподілу часів до відмови зростає зі зменшенням розміру припойного з'єднання. Це означає, що зі зменшенням розмірів припойного з'єднання імовірність ранньої відмови буде зростати.

  Повний текст PDF - 692.17 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"