Microstructure of thin Si−Sn composite films

Neimash, V. B.; Poroshin, V. M.; Kabaldin, A. M.; Yukhymchuk, V. O.; Shepelyavyi, P. E.; Makara, V. A.; Larkin, S. Yu.


	Наукова періодика України		Ukrainian journal of physics

Neimash V. B.
Microstructure of thin Si−Sn composite films / V. B. Neimash, V. M. Poroshin, A. M. Kabaldin, V. O. Yukhymchuk, P. E. Shepelyavyi, V. A. Makara, S. Yu. Larkin // Ukrainian journal of physics. - 2013. - Vol. 58, № 9. - С. 865-871. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Ukjourph_2013_58_9_11

Повний текст PDF - 2.178 Mb

Зміст випуску Google Scholar

Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:

Бібліографічний опис для цитування:

Neimash V. B. Microstructure of thin Si−Sn composite films / V. B. Neimash, V. M. Poroshin, A. M. Kabaldin, V. O. Yukhymchuk, P. E. Shepelyavyi, V. A. Makara, S. Yu. Larkin // Ukrainian journal of physics. - 2013. - Vol. 58, № 9. - С. 865-871. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Ukjourph_2013_58_9_11.

Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)

Юхимчук Володимир Олександрович (фізико-математичні науки)

Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"

Відділ інформаційно-комунікаційних технологій

Пам`ятка користувача