Наукова періодика України | Ukrainian journal of physics | ||
Sachenko A. V. Recombination characteristics of single-crystalline silicon wafers with a damaged near-surface layer / A. V. Sachenko, V. P. Kostylev, V. G. Litovchenko, V. G. Popov, B. M. Romanyuk, V. V. Chernenko, V. M. Naseka, T. V. Slusar, S. I. Kyrylova, F. F. Komarov // Ukrainian journal of physics. - 2013. - Vol. 58, № 2. - С. 142-150. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Ukjourph_2013_58_2_8 Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Sachenko A. V. Recombination characteristics of single-crystalline silicon wafers with a damaged near-surface layer / A. V. Sachenko, V. P. Kostylev, V. G. Litovchenko, V. G. Popov, B. M. Romanyuk, V. V. Chernenko, V. M. Naseka, T. V. Slusar, S. I. Kyrylova, F. F. Komarov // Ukrainian journal of physics. - 2013. - Vol. 58, № 2. - С. 142-150. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Ukjourph_2013_58_2_8.Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |