Особливості використання мікрохвильових ме­тодів для діагностики запорошеної плазми. I. Діелектрична проникність, показники заломлення та поглинання

Ковтун, Ю. В.; Скибенко, А. І.; Скібенко, Є. І.; Сюсько, Є. В.


	Наукова періодика України		Український фізичний журнал

Ковтун Ю. В.
Особливості використання мікрохвильових методів для діагностики запорошеної плазми. I. Діелектрична проникність, показники заломлення та поглинання / Ю. В. Ковтун, А. І. Скибенко, Є. І. Скібенко, Є. В. Сюсько // Український фізичний журнал. - 2019. - Т. 64, № 5. - С. 378-389. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/UPhJ_2019_64_5_5

Повний текст PDF - 1.025 Mb

Зміст випуску Google Scholar

Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:

Бібліографічний опис для цитування:

Ковтун Ю. В. Особливості використання мікрохвильових методів для діагностики запорошеної плазми. I. Діелектрична проникність, показники заломлення та поглинання / Ю. В. Ковтун, А. І. Скибенко, Є. І. Скібенко, Є. В. Сюсько // Український фізичний журнал. - 2019. - Т. 64, № 5. - С. 378-389. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/UPhJ_2019_64_5_5.

Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)

Ковтун Юрій Вікторович (фізико-математичні науки)

Скібенко Євген Іванович (фізико-математичні науки)

Сюсько Євген Васильович (фізико-математичні науки)

Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"

Відділ інформаційно-комунікаційних технологій

Пам`ятка користувача