Наукова періодика України | Український фізичний журнал | ||
Gemechu N. Structural characterization and thickness profile of pulsed laser-deposited KY3F10: Ho3+ thin films / N. Gemechu, T. Abebe // Український фізичний журнал. - 2018. - Т. 63, № 2. - С. 182-186. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/UPhJ_2018_63_2_15 Тонкі KY Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Gemechu N. Structural characterization and thickness profile of pulsed laser-deposited KY3F10: Ho3+ thin films / N. Gemechu, T. Abebe // Український фізичний журнал. - 2018. - Т. 63, № 2. - С. 182-186. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/UPhJ_2018_63_2_15. Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |