Проведені дослідження підвищення чутливості поверхневого плазмонного резонансу рефрактометра за рахунок формування періодичного рельєфу у вигляді гратки з субмікронним періодом на поверхні Au чіпа. Періодичний рельєф різної глибини з просторовою частотою v = (3370 +- 5) лін./мм було сформовано на поверхні плівки Au за допомогою інтерференційної літографії з використанням вакуумних халькогенідних фоторезистів. Встановлено, що кратність підвищення чутливості рефрактометра та величина інтервалу зміни показника заломлення <$E DELTA n> середовища, в якому спостерігається це підвищення, залежить від глибини рельєфу гратки. При збільшенні глибини рельєфу ширина робочого інтервалу <$E DELTA n> зменшується, а чутливість збільшується від 110 град./RIU для стандартного чіпа, до 154 град./RIU та 363 град./RIU для структурованих чіпів з глибиною рельєфу, що дорівнює 11,7 +- 2 нм та 18,5 +- 2 нм відповідно.

  Повний текст PDF - 760.126 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"