Application of microwave ray refraction in inhomogeneous plasma interferometry

Skibenko, A. I.; Pinos, I. B.; Kovtun, Yu. V.; Skibenko, E. I.; Syus’ko, E. V.

Skibenko A. I.
Application of microwave ray refraction in inhomogeneous plasma interferometry / A. I. Skibenko, I. B. Pinos, Yu. V. Kovtun, E. I. Skibenko, E. V. Syus’ko // Український фізичний журнал. - 2016. - Т. 61, № 8. - С. 721-727. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/UPhJ_2016_61_8_9

Аналітично і числово вивчено можливість використання інтерферометрії плазми похилими мікрохвильовими променями для вимірювання густини в різних шарах плазми. Для моделювання методу запропоновано вид профілю густини з максимумом або декількома максимумами, кількість і положення яких можуть змінюватися за радіусом. Для такого профілю розглянуто особливості рефракції і можливість використання інтерферометри плазми похилими мікрохвильовими променями.

Повний текст PDF - 4.838 Mb

Зміст випуску Google Scholar

Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:

Бібліографічний опис для цитування:

Skibenko A. I. Application of microwave ray refraction in inhomogeneous plasma interferometry / A. I. Skibenko, I. B. Pinos, Yu. V. Kovtun, E. I. Skibenko, E. V. Syus’ko // Український фізичний журнал. - 2016. - Т. 61, № 8. - С. 721-727. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/UPhJ_2016_61_8_9.

Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"

Відділ інформаційно-комунікаційних технологій

Пам`ятка користувача


	Наукова періодика України		Український фізичний журнал