З метою вияснення механізму впливу ультразвуку (УЗ) на електропровідність <$Esigma~(T)> у низькоомних монокристалах n-типу CdTe:Cl (<$EN sub { roman Cl}~symbol Ы~10 sup 24> м<^>-3) проведено температурні (77 - 300 К) дослідження ефекту Холла та кінетики релаксації <$Esigma~(t)> у разі ввімкнення та вимкнення УЗ (fUS ~ 10 МГц, WUS ~ 10<^>4 Вт/м<^>2). Вперше виявлено динамічний (повністю зворотний) вплив УЗ, який різниться для низькотемпературної області (HT, T << 180 К) і високотемпературної (ВТ, T >> 200 К). У ВТ області акустостимульовані (АС) зміни незначні, дещо падає рухливість, довготривалі <$Esigma~(t)> не проявляються. В HT області відносні АС зміни зростають, збільшується тривалість релаксаційних процесів <$Esigma~(t)>, які проявляють двостадійний характер. Для пояснення використано модель неоднорідного напівпровідника, що містить кластери домішкових дефектів в околі дислокацій. Запропоновано механізм, який пов'язує "миттєві" зростання <$Esigma~(t)> з АС зменшенням амплітуди флуктуацій крупномасштабного потенціалу в результаті збільшення ефективного електронного радіуса дислокаційних домішкових кластерів; довготривалі температурно-залежні релаксації (50 - 500 с) визначаються дифузійною перебудовою точково-дефектної структури в середині кластера, включаючи перебудову заряджених акцепторних комплексів <$E[(V sub { roman Cd} sup 2- Cl sub { roman Te} sup + ) sup - ]> в нейтральні - <$E[(V sub { roman Cd} sup 2- 2Cl sub { roman Te} sup + ) sup 0 ]>.

  Повний текст PDF - 878.235 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"