![]() | Наукова періодика України |
| Ukrainian journal of physics |
Venger E. F. IR Spectroscopic Study of Thin ZnO Films Grown Using the Atomic Layer Deposition Method / E. F. Venger, L. Yu. Melnichuk, A. V. Melnichuk, T. V. Semikina // Ukrainian journal of physics. - 2016. - Vol. 61, № 12. - С. 1053-1060. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/UPhJ_2016_61_12_5 Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Venger E. F. IR Spectroscopic Study of Thin ZnO Films Grown Using the Atomic Layer Deposition Method / E. F. Venger, L. Yu. Melnichuk, A. V. Melnichuk, T. V. Semikina // Ukrainian journal of physics. - 2016. - Vol. 61, № 12. - С. 1053-1060. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/UPhJ_2016_61_12_5.Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
| |||||||||||||||||
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |
|||||