Наукова періодика України | Український фізичний журнал | ||
Goriachko A. Scanning tunneling microscopy investigation of the Si(001)-c(8 × 8) nanostructured surface / A. Goriachko, S. P. Kulyk, P. V. Melnik, M. G. Nakhodkin // Український фізичний журнал. - 2015. - Т. 60, № 2. - С. 148-152. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/UPhJ_2015_60_2_9 Реконструкція Si(001)-c(<$E 8~times~8>), що спостерігається в деяких випадках, є унікальним наноструктурованим станом поверхні Si(001). Він був одержаний внаслідок внесення домішок Cu в концентраціях нижче межі чутливості електронної спектроскопії. Детальні СТМ зображення демонструють, що в стані с(<$E 8~times~8>) поверхня не є атомарно гладкою, натомість складається із основних елементів, які належать двом послідовним атомним шарам. Цими елементами є епітаксійні аддимери Si в першому (поверхневому) шарі та подвійні димерні вакансії в другому (приповерхневому) шарі кремнієвого субстрату. Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Goriachko A. Scanning tunneling microscopy investigation of the Si(001)-c(8 × 8) nanostructured surface / A. Goriachko, S. P. Kulyk, P. V. Melnik, M. G. Nakhodkin // Український фізичний журнал. - 2015. - Т. 60, № 2. - С. 148-152. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/UPhJ_2015_60_2_9. Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |