Наукова періодика України | Прикладная радиоэлектроника | ||
Лукин К. А. Измерение толщин тонких пленок методом спектральной интерферометрии / К. А. Лукин, Д. Н. Татьянко, О. В. Земляный, А. Б. Пих // Прикладная радиоэлектроника. - 2016. - Т. 15, № 4. - С. 350-354. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Prre_2016_15_4_10 Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Лукин К. А. Измерение толщин тонких пленок методом спектральной интерферометрии / К. А. Лукин, Д. Н. Татьянко, О. В. Земляный, А. Б. Пих // Прикладная радиоэлектроника. - 2016. - Т. 15, № 4. - С. 350-354. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Prre_2016_15_4_10. Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |