Наукова періодика України | Поверхня | ||
Рубежанская М. Ю. Влияние упругих деформаций на локальные токовые характеристики отдельных нанокластеров ge на si, исследованных методом проводящей атомно-силовой микроскопии / М. Ю. Рубежанская // Поверхность. - 2012. - Вып. 4. - С. 193-202. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Pov_2012_4_21 Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Рубежанская М. Ю. Влияние упругих деформаций на локальные токовые характеристики отдельных нанокластеров ge на si, исследованных методом проводящей атомно-силовой микроскопии / М. Ю. Рубежанская // Поверхность. - 2012. - Вып. 4. - С. 193-202. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Pov_2012_4_21. Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |