Наукова періодика України Поверхность

Рубежанская М. Ю. 
Влияние упругих деформаций на локальные токовые характеристики отдельных нанокластеров ge на si, исследованных методом проводящей атомно-силовой микроскопии / М. Ю. Рубежанская // Поверхность. - 2012. - Вып. 4. - С. 193-202. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Pov_2012_4_21
  Повний текст PDF - 1.502 Mb    Зміст випуску     Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:
  • Рубежанская М.

    • Бібліографічний опис для цитування:

    Рубежанская М. Ю. Влияние упругих деформаций на локальные токовые характеристики отдельных нанокластеров ge на si, исследованных методом проводящей атомно-силовой микроскопии / М. Ю. Рубежанская // Поверхность. - 2012. - Вып. 4. - С. 193-202. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Pov_2012_4_21.
      Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
     
    Відділ інформаційно-комунікаційних технологій
    Пам`ятка користувача

    Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського