![]() | Наукова періодика України |
| Фотоэлектроника |
Smirnov A. V. Advanced relativistic approach in spectroscopy of complex autoionization resonances in atomic spectra / A. V. Smirnov, O. Yu. Khetselius, V. V. Buyadzhi, A. S. Belodonov // Фотоэлектроника. - 2017. - № 26. - С. 114-123. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Photo_el_2017_26_15 Розвинено вдосконалений релятивістський підхід до вивчення параметрів автоіонізаціонних резонансів в атомних системах, який базується на узагальненому енергетичному підході (S-матричний формалізм Гелл - Манна і Лоу) і релятивістської багаточастинковій теорії збурень з нульовим наближенням Дірака - Кона - Шема та акуратним урахуванням обмінно-кореляційних, релятивістських ефектів. Оптимізацію базису релятивістських орбіталей зведено до мінімізації калібрувально-залежного багатоелектронного вкладу від обмінно-кореляційних поправок КЕД теорії збурень у радіаційні ширини атомних рівнів, що своєю чергою, зводиться до вирішення системи рівнянь типу Дірака - Кона - Шема для електронної густини. Як ілюстрацію можливостей запропонованого підходу наведено дані по енергії та ширині автоіонізаційного резонансу 3s3p<^>1 Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Smirnov A. V. Advanced relativistic approach in spectroscopy of complex autoionization resonances in atomic spectra / A. V. Smirnov, O. Yu. Khetselius, V. V. Buyadzhi, A. S. Belodonov // Фотоэлектроника. - 2017. - № 26. - С. 114-123. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Photo_el_2017_26_15. |
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |
|||||