Наукова періодика України | Фотоэлектроника | ||
Bak A.Yu. Determination of band gap of semiconductor material in end product / A.Yu. Bak, Yu. N. Karakis, A. E. Stupak, M. I. Kutalova, A. P. Chebanenko // Фотоэлектроника. - 2014. - № 23. - С. 124-130. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Photo_el_2014_23_17 Запропоновано метод визначення енергії активації напівпровідника в готовому виробі. Показано, що ширину забороненої зони можливо розрахувати по відсічкам на обох вісях графіків <$E roman {ln(I)~symbol Ш~U}>, виміряних за різних температур. Визначено мінімальний температурний інтервал залежно від точності вимірювань. Вказано на новий засіб визначення E Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Bak A.Yu. Determination of band gap of semiconductor material in end product / A.Yu. Bak, Yu. N. Karakis, A. E. Stupak, M. I. Kutalova, A. P. Chebanenko // Фотоэлектроника. - 2014. - № 23. - С. 124-130. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Photo_el_2014_23_17. Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |