Detection of ammonia molecules using optical reflectance from nanostructured silicon surface

Iatsunskyi, I. R.; Smyntyna, V. A.; Pavlenko, M. M.


	Наукова періодика України		Фотоэлектроника

Iatsunskyi I. R.
Detection of ammonia molecules using optical reflectance from nanostructured silicon surface / I. R. Iatsunskyi, V. A. Smyntyna, M. M. Pavlenko // Фотоэлектроника. - 2013. - № 22. - С. 66-71. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Photo_el_2013_22_12

The reflectance properties of various porous silicon structures after ammonia adsorption were investigated. It was shown that increasing of ammonia concentration in the measurement chamber leads to an increase of the optical reflectance. The most sensitive structures for ammonia detection are porous silicon having approximately size of pores - 10 - 15 <$E mu>m.

Повний текст PDF - 739.956 Kb

Зміст випуску Google Scholar

Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:

Iatsunskyi I.

Smyntyna V.

Pavlenko M.

Бібліографічний опис для цитування:

Iatsunskyi I. R. Detection of ammonia molecules using optical reflectance from nanostructured silicon surface / I. R. Iatsunskyi, V. A. Smyntyna, M. M. Pavlenko // Фотоэлектроника. - 2013. - № 22. - С. 66-71. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Photo_el_2013_22_12.

Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"

Відділ інформаційно-комунікаційних технологій

Пам`ятка користувача