Наукова періодика України | Фізична інженерія поверхні | ||
Бузруков У. М. Исследование фоточувствительности двухбарьерной pAlGaInAs-nGaAs:О-Au-структуры / У. М. Бузруков // Фізична інженерія поверхні. - 2005. - Т. 3, № 3-4. - С. 216-218. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Phip_2005_3_3-4_8 Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Бузруков У. М. Исследование фоточувствительности двухбарьерной pAlGaInAs-nGaAs:О-Au-структуры / У. М. Бузруков // Фізична інженерія поверхні. - 2005. - Т. 3, № 3-4. - С. 216-218. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Phip_2005_3_3-4_8. Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |