Наукова періодика України Фізика низьких температур


Клепикова А. С. 
Анизотропия плотности критического тока в слоистом электронно-легированном сверхпроводнике Nd2–xCexCuO4+δ / А. С. Клепикова, М. Р. Попов, А. А. Иванов, М. В. Медведев, Т. Б. Чарикова // Фізика низьких температур. - 2019. - Т. 45, № 2. - С. 245-250. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/PhNT_2019_45_2_14
Наведено результати дослідження провідності та густини критичного струму монокристалічних плівок із віссю c, яка є перпендикулярною або паралельною площині підкладки, з концентрацією церію x = 0,15 та x = 0,17. Виявлено, що у стехіометрично відпалених плівках з оптимальним вмістом церію (x = 0,15) величина анізотропії опору є максимальною, а анізотропія густини критичного струму склала <$E j sub c sup ab "/" j sub c sup c~symbol @~3~cdot~10 sup 3> за T = 4,2 К. Сильну анізотропію густини критичного струму розглянуто в межах моделі природної надгратки з провідними CuO2-шарами, які чергуються, та непровідними буферними Nd(Ce)O-шарами. Показано, що висока густина критичного струму вздовж провідних CuO2-площин пов'язана з пінінгом вихорів на буферних шарах, а сильна анізотропія густини критичного струму є наслідком анізотропного руху вихрової гратки у шаруватому надпровіднику.
  Повний текст PDF - 807.502 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:
  • Клепикова А.
  • Попов М.
  • Иванов А.
  • Медведев М.
  • Чарикова Т.

  • Бібліографічний опис для цитування:

    Клепикова А. С. Анизотропия плотности критического тока в слоистом электронно-легированном сверхпроводнике Nd2–xCexCuO4+δ / А. С. Клепикова, М. Р. Попов, А. А. Иванов, М. В. Медведев, Т. Б. Чарикова // Фізика низьких температур. - 2019. - Т. 45, № 2. - С. 245-250. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/PhNT_2019_45_2_14.

      Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
     
    Відділ інформаційно-комунікаційних технологій
    Пам`ятка користувача

    Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського