Наукова періодика України Фізика низьких температур


Козлов Д. А. 
Квантовая емкость трехмерного топологического изолятора на основе HgTe / Д. А. Козлов, D. Bauer, J. Ziegler, R. Fischer, М. Л. Савченко, З. Квон, Н. Н. Михайлов, С. А. Дворецкий, D. Weiss // Физика низких температур. - 2017. - Т. 43, № 4. - С. 537-545. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/PhNT_2017_43_4_4
Экспериментально изучена квантовая емкость, напрямую характеризующая плотность состояний высокоподвижных дираковских двумерных состояний, образующихся на поверхности напряженной пленки HgTe. Показано, что наблюдаемые в магнитоемкости квантовые осцилляции, в отличие от осцилляций в магнитотранспорте, где вклад дают все существующие типы носителей, соответствуют электронам на верхней поверхности пленки. Таким образом, емкостная спектроскопия является селективным методом для исследования свойств отдельной топологической поверхности даже в условиях большого количества объемных носителей. Благодаря этой особенности впервые получены данные о фазовом сдвиге осцилляций Шубникова - де Гааза, часто ассоциируемом с фазой Берри, для отдельного дираковского конуса, а также получена зависимость величины сдвига от положения уровня Ферми.
  Повний текст PDF - 8.32 Mb    Зміст випуску     Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:
  • Козлов Д.
  • Bauer D.
  • Ziegler J.
  • Fischer R.
  • Савченко М.
  • Квон З.
  • Михайлов Н.
  • Дворецкий С.
  • Weiss D.

  • Бібліографічний опис для цитування:

    Козлов Д. А. Квантовая емкость трехмерного топологического изолятора на основе HgTe / Д. А. Козлов, D. Bauer, J. Ziegler, R. Fischer, М. Л. Савченко, З. Квон, Н. Н. Михайлов, С. А. Дворецкий, D. Weiss // Физика низких температур. - 2017. - Т. 43, № 4. - С. 537-545. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/PhNT_2017_43_4_4.

      Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
     
    Відділ інформаційно-комунікаційних технологій
    Пам`ятка користувача

    Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського