Occupation preference values in doped CmIm' multinaries from EXAFS and FTIR correlative analysis

Robouch, B. V.; Marcelli, A.; Robouch, P.; Kisiel, A.


	Наукова періодика України		Фізика низьких температур

Robouch B. V.
Occupation preference values in doped CmIm' multinaries from EXAFS and FTIR correlative analysis / B. V. Robouch, A. Marcelli, P. Robouch, A. Kisiel // Физика низких температур. - 2011. - Т. 37, № 3. - С. 308-312. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/PhNT_2011_37_3_12

We discuss which x-ray absorption fine structure (EXAFS) data of binary doped CmIm' compound structures can be unfolded to determine elemental bond distances and the deviations from random configurations due to site preference occupations (SOPs). SOP-deviation estimations can be further confirmed by independent Fourier transform infrared (FTIR) data analysis. The limits and restrictions of our model are presented and discussed.

Повний текст PDF - 222.966 Kb

Зміст випуску Google Scholar

Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:

Бібліографічний опис для цитування:

Robouch B. V. Occupation preference values in doped CmIm' multinaries from EXAFS and FTIR correlative analysis / B. V. Robouch, A. Marcelli, P. Robouch, A. Kisiel // Физика низких температур. - 2011. - Т. 37, № 3. - С. 308-312. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/PhNT_2011_37_3_12.

Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"

Відділ інформаційно-комунікаційних технологій

Пам`ятка користувача