| Наукова періодика України |
| Фізика і хімія твердого тіла |
Галій П. В. Растрова електронна та атомно-силова мікроскопії радіолізу поверхонь плівок CsI при високоінтенсивному електрон¬ному опроміненні / П. В. Галій, Т. М. Ненчук, О. П. Поплавський, О. Я. Тузяк // Фізика і хімія твердого тіла. - 2012. - Т. 13, № 3. - С. 827-835. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/PhKhTT_2012_13_3_48 Наведено результати дослідження за допомогою методів растрової електронної та атомно-силової (АСМ) мікроскопій закономірностей процесів деструкції, дефектоутворення та радіолізу поверхні плівок СsI у процесі опромінення електронами середніх енергій у широкому діапазоні потужностей і доз опромінення. Оцінено потужності та дози опромінення, за яких відбувається поява фазових наноутворень і нано- та мікропор на поверхні CsI, що одержано вперше за допомогою методу АСМ на нанорівні. Встановлено дози електронного опромінення, за яких має місце радіоліз поверхні плівок CsI з "виділенням" нано- та мікрофаз і формування наноутворень на них. Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Галій П. В. Растрова електронна та атомно-силова мікроскопії радіолізу поверхонь плівок CsI при високоінтенсивному електрон¬ному опроміненні / П. В. Галій, Т. М. Ненчук, О. П. Поплавський, О. Я. Тузяк // Фізика і хімія твердого тіла. - 2012. - Т. 13, № 3. - С. 827-835. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/PhKhTT_2012_13_3_48.Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця" |
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |
|||||
