Особливості спектрів термостимульованої деполяризації рентгеноопромінених структур Si-SiO2

Коман, Б. П.


	Наукова періодика України		Фізика і хімія твердого тіла

Коман Б. П.
Особливості спектрів термостимульованої деполяризації рентгеноопромінених структур Si-SiO2 / Б. П. Коман // Фізика і хімія твердого тіла. - 2012. - Т. 13, № 3. - С. 636-648. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/PhKhTT_2012_13_3_14

Досліджено закономірності спектрів термостимульованої деполяризації (ТСД) вихідних і рентгеноопромінених структур Si - SiO2. Експериментальні криві j(T) продемонстрували 2 характерних максимуми в області 360 (НТ-) і 450 K (ВТ-максимум). На основі розв'язків інтегрального рівняння Фредгольма I-го роду, що описує експериментальні спектри ТСД, розраховано енергетичний спектр густини станів дефектів, які формують електретний стан в області характерних максимумів j(T). Оцінено енергії активації та частотні фактори відповідних дефектів.

Повний текст PDF - 373.193 Kb Зміст випуску Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:
Коман Б.

Бібліографічний опис для цитування:
Коман Б. П. Особливості спектрів термостимульованої деполяризації рентгеноопромінених структур Si-SiO2 / Б. П. Коман // Фізика і хімія твердого тіла. - 2012. - Т. 13, № 3. - С. 636-648. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/PhKhTT_2012_13_3_14.
Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
Коман Богдан Петрович (фізико-математичні науки)

Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"

Відділ інформаційно-комунікаційних технологій

Пам`ятка користувача