Надано результати досліджень впливу кристалографічної орієнтації поверхні підкладки на морфологічні та оптичні властивості тонких плівок InSe. Плівки товщиною 15 і 45 нм вирощено за допомогою методу газофазної епітаксії на поверхні монокристалічного кремнію з кристалографічними орієнтаціями {100} та {111}. За допомогою методу атомно-силової мікроскопії встановлено, що вирощені плівки характеризуються невпорядкованою зернистою структурою, розмір зерна яких збільшується у разі збільшення товщини плівки. Оптичні дослідження показали, що за такої товщини плівок їх фізичні параметри є параметрами, характерними для аморфних плівок.

  Повний текст PDF - 492.829 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"