За допомогою методів рентгенівського характеристичного випромінювання, індукованого сфокусованим протонним пучком (mu-PIXE), і рентгеноспектрального мікроаналізу (EDAX) досліджено плівки CdTe, нанесені термічним випаровуванням у квазізамкненому об'ємі. В результаті досліджень з високою локальністю одержано зображення поверхні плівок у вікнах випромінювання кадмію та телуру. Визначено склад матеріалу як у об'ємі кристалітів, так і на їх межах. З точністю методу зміни стехіометрії з'єднання на межах зерен і сторонніх домішок, крім Si, у плівках не виявлено. Дані, одержані за допомогою методу mu-PIXE, порівняно з результатами EDAX. Досліджено вплив зміни температури конденсації на хімічний склад плівок.

  Повний текст PDF - 474.152 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"