Наукова періодика України Науковий вісник Чернівецького університету


Політанський Р. Л. 
Дослідження параметрів структурної досконалості надтонких епітаксійних шарів SiGex методом високороздільної рентгенівської дифрактометрії / Р. Л. Політанський, В. П. Кладько, М. І. Клюй // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика, електроніка. - 2001. - Вип. 112. - С. 48-50. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nvchnufe_2001_112_8
  Повний текст PDF - 259.591 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:
  • Політанський Р.
  • Кладько В.
  • Клюй М.

  • Бібліографічний опис для цитування:

    Політанський Р. Л. Дослідження параметрів структурної досконалості надтонких епітаксійних шарів SiGex методом високороздільної рентгенівської дифрактометрії / Р. Л. Політанський, В. П. Кладько, М. І. Клюй // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика, електроніка. - 2001. - Вип. 112. - С. 48-50. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nvchnufe_2001_112_8.

    Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
    (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  • Політанський Руслан Леонідович (фізико-математичні науки)
  • Кладько Василь Петрович (1957–) (фізико-математичні науки)
  • Клюй Микола Іванович (фізико-математичні науки)
  •   Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
     
    Відділ інформаційно-комунікаційних технологій
    Пам`ятка користувача

    Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського