Наукова періодика України Науковий вісник Чернівецького університету

Nemcsics Ákos 
Electrochemical Defect Characterization of Different Compound Semiconductor Surfaces / Ákos Nemcsics, László Dobos, Ferenc Riesz // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика, електроніка. - 2001. - Вип. 112. - С. 108-112. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nvchnufe_2001_112_24
  Повний текст PDF - 242.037 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:
  • Nemcsics Á.
  • Dobos L.
  • Riesz F.

    • Бібліографічний опис для цитування:

    Nemcsics Ákos Electrochemical Defect Characterization of Different Compound Semiconductor Surfaces / Ákos Nemcsics, László Dobos, Ferenc Riesz // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика, електроніка. - 2001. - Вип. 112. - С. 108-112. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nvchnufe_2001_112_24.
      Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
     
    Відділ інформаційно-комунікаційних технологій
    Пам`ятка користувача

    Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського