Наукова періодика України Науковий вісник Чернівецького університету

Фодчук І. М. 
Дослідження параметрів мікрошорсткості поверхні кристалів методом рентгенівської рефлектометрії / І. М. Фодчук, А. М. Раранський, М. Л. Кшевецька, С. В. Баловсяк, В. В. Соболєв // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика, електроніка. - 1999. - Вип. 50. - С. 22-25. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nvchnufe_1999_50_8
  Повний текст PDF - 375.931 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:
  • Фодчук І.
  • Раранський А.
  • Кшевецька М.
  • Баловсяк С.
  • Соболєв В.

    • Бібліографічний опис для цитування:

    Фодчук І. М. Дослідження параметрів мікрошорсткості поверхні кристалів методом рентгенівської рефлектометрії / І. М. Фодчук, А. М. Раранський, М. Л. Кшевецька, С. В. Баловсяк, В. В. Соболєв // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика, електроніка. - 1999. - Вип. 50. - С. 22-25. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nvchnufe_1999_50_8.
    Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
    (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  • Фодчук Ігор Михайлович (технічні науки)
  • Раранський Андрій Миколайович (фізико-математичні науки)
  • Баловсяк Сергій Васильович (фізико-математичні науки)
  • Соболєв Валерій Вікторович (1947–) (технічні науки)
    •   Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
     
    Відділ інформаційно-комунікаційних технологій
    Пам`ятка користувача

    Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського