Надано підхід щодо збільшення точності контролю товщини виробів і матеріалів луно-імпульсним методом. Показано типи похибок, що мають місце в існуючому луно-імпульсному методі контролю. Вказано причини їх виникнення. Показано, у який спосіб можна зменшити похибку вимірювання у випадку затримки часу поширення ультразвукового променя від первинного перетворювача до об'єкта контролю. Запропоновано метод обчислення часу поширення ультразвукового променя між першим та другим луно-імпульсом при контролю товщини. Надано математичний опис обчислення хвильових параметрів спрямованих ультразвукових хвиль, що дозволив запропонувати метод визначення швидкості поширення ультразвуку в реальному об'єкті контролю. В основу запропонованого методу покладено вимірювання на досліджуваному об'єкті хвильового числа нульової антисиметричної моди спрямованої ультразвукової хвилі та подальше визначення параметрів поширення ультразвуку.

  Повний текст PDF - 260.672 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"