| Наукова періодика України |
| Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології |
Грушко В. Новая СТМ/СТС-методика исследования атомарной структуры поверхности / В. Грушко, Н. Новиков, А. Чайка, Е. Мицкевич, О. Лысенко // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. - 2014. - Т. 12, Вип. 1. - С. 81-90. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nano_2014_12_1_11 Представлена новая методика исследования атомарной структуры поверхности на основе методов сканирующей туннельной микроскопии (СТМ) и сканирующей туннельной спектроскопии (СТС) с алмазным зондом. В основу методики положена идея сравнения СТМ-изображения изучаемого участка поверхности и его СТС-изображения, полученного при малых туннельных напряжениях. Представленная методика может использоваться при нанотехнологических операциях атомарной сборки логических элементов квантовых компьютеров, элементов наноэлектроники, при создании и изучении однофотонных источников и др. Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Грушко В. Новая СТМ/СТС-методика исследования атомарной структуры поверхности / В. Грушко, Н. Новиков, А. Чайка, Е. Мицкевич, О. Лысенко // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. - 2014. - Т. 12, Вип. 1. - С. 81-90. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nano_2014_12_1_11.Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця" |
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |
|||||
