Наукова періодика України Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології

Бобик М. Ю. 
Кількісні параметри стохастично нанонеоднорідної структури аморфних плівок системи Ge–Se / М. Ю. Бобик, В. П. Іваницький, В. С. Ковтуненко, В. І. Сабов // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. - 2013. - Т. 11, Вип. 1. - С. 73-88. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nano_2013_11_1_8
Сочетанием методов электронной и атомно-силовой микроскопии определены количественные параметры наноструктуры аморфных пленок системы Ge - Se: размеры неоднородностей, высота выступов и глубина впадин рельефа поверхности, диаметры зерен или столбиков, размеры каналов между столбиками, размеры нанопор, степень нанопористости. Установлено, что нанонеоднородности реализуются благодаря наличию рельефа поверхности исследуемых образцов и их нанопористости.
  Повний текст PDF - 674.013 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:
  • Бобик М.
  • Іваницький В.
  • Ковтуненко В.
  • Сабов В.

    • Бібліографічний опис для цитування:

    Бобик М. Ю. Кількісні параметри стохастично нанонеоднорідної структури аморфних плівок системи Ge–Se / М. Ю. Бобик, В. П. Іваницький, В. С. Ковтуненко, В. І. Сабов // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. - 2013. - Т. 11, Вип. 1. - С. 73-88. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nano_2013_11_1_8.
      Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
     
    Відділ інформаційно-комунікаційних технологій
    Пам`ятка користувача

    Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського