Наукова періодика України | Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics | ||
Bacherikov Yu. Yu. Comparison of properties inherent to thin titanium oxide films formed by rapid thermal annealing on SiC and porous SiC substrates / Yu. Yu. Bacherikov, N. L. Dmitruk, R. V. Konakova, O. F. Kolomys, O. B. Okhrimenko, V. V. Strelchuk, O. S. Lytvyn, L. M. Kapitanchuk, A. M. Svetlichnyi // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2018. - Vol. 21, № 2. - С. 200-205. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2018_21_2_16 The comparative analysis of optical characteristics inherent to TiO Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Bacherikov Yu. Yu. Comparison of properties inherent to thin titanium oxide films formed by rapid thermal annealing on SiC and porous SiC substrates / Yu. Yu. Bacherikov, N. L. Dmitruk, R. V. Konakova, O. F. Kolomys, O. B. Okhrimenko, V. V. Strelchuk, O. S. Lytvyn, L. M. Kapitanchuk, A. M. Svetlichnyi // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2018. - Vol. 21, № 2. - С. 200-205. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2018_21_2_16.Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |