Наукова періодика України | Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics | ||
Bacherikov Yu. Yu. Optical properties of thin erbium oxide films formed by rapid thermal annealing on SiC substrates with different structures / Yu. Yu. Bacherikov, R. V. Konakova, O. B. Okhrimenko, N. I. Berezovska, L. M. Kapitanchuk, A. M. Svetlichnyi // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2017. - Vol. 20, № 4. - С. 465-469. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2017_20_4_13 The comparative analysis of optical characteristics inherent to Er Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Bacherikov Yu. Yu. Optical properties of thin erbium oxide films formed by rapid thermal annealing on SiC substrates with different structures / Yu. Yu. Bacherikov, R. V. Konakova, O. B. Okhrimenko, N. I. Berezovska, L. M. Kapitanchuk, A. M. Svetlichnyi // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2017. - Vol. 20, № 4. - С. 465-469. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2017_20_4_13.Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |