Наукова періодика України | Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics | ||
Kravets V. G. Ellipsometry and optical spectroscopy of low-dimensional family TMDs / V. G. Kravets, V. V. Prorok, L. V. Poperenko, I. A. Shaykevich // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2017. - Vol. 20, № 3. - С. 284-296. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2017_20_3_4 Here, we report a comprehensive study of fundamental optical properties of two-dimensional materials. These properties have been ascertained using spectroscopic ellipsometry, optical spectroscopy of Raman scattering, and photoluminescence. We have focused on optical properties of the chemically exfoliated layered TMDs: MoS Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Kravets V. G. Ellipsometry and optical spectroscopy of low-dimensional family TMDs / V. G. Kravets, V. V. Prorok, L. V. Poperenko, I. A. Shaykevich // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2017. - Vol. 20, № 3. - С. 284-296. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2017_20_3_4. Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |