Наукова періодика України Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics


Malenko A. S. 
Classic test Ronchi and its variants for quality control of various optical surfaces / A. S. Malenko, V. N. Borovytsky // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2016. - Vol. 19, № 3. - С. 311-314. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2016_19_3_15
  Повний текст PDF - 263.52 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:
  • Malenko A.
  • Borovytsky V.

  • Бібліографічний опис для цитування:

    Malenko A. S. Classic test Ronchi and its variants for quality control of various optical surfaces / A. S. Malenko, V. N. Borovytsky // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2016. - Vol. 19, № 3. - С. 311-314. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2016_19_3_15.

      Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
     
    Відділ інформаційно-комунікаційних технологій
    Пам`ятка користувача

    Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського