Наукова періодика України | Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics | ||
Malenko A. S. Classic test Ronchi and its variants for quality control of various optical surfaces / A. S. Malenko, V. N. Borovytsky // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2016. - Vol. 19, № 3. - С. 311-314. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2016_19_3_15 Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Malenko A. S. Classic test Ronchi and its variants for quality control of various optical surfaces / A. S. Malenko, V. N. Borovytsky // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2016. - Vol. 19, № 3. - С. 311-314. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2016_19_3_15. Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |