Наукова періодика України Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics


Slipokurov V. S. 
Methodological aspects of measuring the resistivity of contacts to high-resistance semiconductors / V. S. Slipokurov, M. N. Dub, A. K. Tkachenko, Ya. Ya. Kudryk // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2015. - Vol. 18, № 2. - С. 144-146. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2015_18_2_8
Proposed has been the method of formation a thermally stable ohmic contact to the diamond without high-temperature annealing with the resistivity ~50 to <$E80~roman {Ohm~cdot~cm} sup 2> when <$ER sub s ~=~3~cdot~10 sup 7 roman Ohm>/<$B0>. Being based on the analysis of correlation dependence between the resistivity of contact and that of semiconductor for the unannealed sample and the sample after rapid thermal annealing it has been shown that variation of the contact resistance on the plate is related with that of semiconductor and may be caused by inhomogeneity of the dopant distribution.
  Повний текст PDF - 493.139 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:
  • Slipokurov V.
  • Dub M.
  • Tkachenko A.
  • Kudryk Y.

  • Бібліографічний опис для цитування:

    Slipokurov V. S. Methodological aspects of measuring the resistivity of contacts to high-resistance semiconductors / V. S. Slipokurov, M. N. Dub, A. K. Tkachenko, Ya. Ya. Kudryk // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2015. - Vol. 18, № 2. - С. 144-146. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2015_18_2_8.

      Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
     
    Відділ інформаційно-комунікаційних технологій
    Пам`ятка користувача

    Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського