Наукова періодика України Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics


Rengevych O. V. 
Visualization of submicron Si-rods by SPR-enhanced total internal reflection microscopy / O. V. Rengevych, G. V. Beketov, Yu. V. Ushenin // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2014. - Vol. 17, № 4. - С. 368-373. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2014_17_4_12
The potential of surface plasmon resonance-enhanced total internal reflection microscopy for visualization of submicron particles has been demonstrated using submicron-sized silicon rods as a test object. Submicron Si-rods were deposited onto the surface of a plasmon-supporting gold film by sedimentation from suspension, and their images were obtained using optical microscope with SPR excitation. Quality of images obtained in this way was compared with images viewed from the prism side in the SPR microscopy configuration. Specific features of light scattering from filiform objects are discussed. The study was aimed at development of a novel type of SPR-based biosensor relied upon direct count of biological species of interest (bacteria, viruses, large biomolecular complexes).
  Повний текст PDF - 2.219 Mb    Зміст випуску     Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:
  • Rengevych O.
  • Beketov G.
  • Ushenin Y.

  • Бібліографічний опис для цитування:

    Rengevych O. V. Visualization of submicron Si-rods by SPR-enhanced total internal reflection microscopy / O. V. Rengevych, G. V. Beketov, Yu. V. Ushenin // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2014. - Vol. 17, № 4. - С. 368-373. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2014_17_4_12.

    Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
    (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  • Ренгевич Олена Вікторівна (фізико-математичні науки)
  • Бекетов Геннадій Вікторович (фізико-математичні науки)
  •   Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
     
    Відділ інформаційно-комунікаційних технологій
    Пам`ятка користувача

    Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського