Spectral-ellipsometric examining the films of gold nanoparticles on Si/SiO2 substrate

Bortchagovsky, E. G.; Lozovski, V. Z.; Mishakova, T. O.; Hingerl, K.

Bortchagovsky E. G.
Spectral-ellipsometric examining the films of gold nanoparticles on Si/SiO2 substrate / E. G. Bortchagovsky, V. Z. Lozovski, T. O. Mishakova, K. Hingerl // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2012. - Vol. 15, № 4. - С. 360-364. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2012_15_4_13

We have investigated optical properties of films of gold nanoparticles on Si/SiO2 substrate by using the method of spectroscopic ellipsometry in dependence on morphology of the films. Different morphology of the films was obtained by flash-annealing at various temperatures of identical sputtered thin gold layers. Ellipsometric spectra were compared with account of pictures of the films obtained by scanned electron microscopy. Remarkable dependence of depolarization of the reflected light with the frequency of localized plasmon resonance versus the film morphology was found.

Повний текст PDF - 2.435 Mb

Зміст випуску Google Scholar

Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:

Бібліографічний опис для цитування:

Bortchagovsky E. G. Spectral-ellipsometric examining the films of gold nanoparticles on Si/SiO2 substrate / E. G. Bortchagovsky, V. Z. Lozovski, T. O. Mishakova, K. Hingerl // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2012. - Vol. 15, № 4. - С. 360-364. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2012_15_4_13.

Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"

Відділ інформаційно-комунікаційних технологій

Пам`ятка користувача


	Наукова періодика України		Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics