Surface defects determining by the wave front scanner

Goloborodko, N. S.; Grygoruk, V. I.; Kurashov, V. N.; Podanchuk, D. V.; Goloborodko, A. A.; Kotov, M. M.


	Наукова періодика України		Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics

Goloborodko N. S.
Surface defects determining by the wave front scanner / N. S. Goloborodko, V. I. Grygoruk, V. N. Kurashov, D. V. Podanchuk, A. A. Goloborodko, M. M. Kotov // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2010. - Vol. 13, № 1. - С. 65-69. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2010_13_1_14

Повний текст PDF - 715.445 Kb

Зміст випуску Google Scholar

Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:

Бібліографічний опис для цитування:

Goloborodko N. S. Surface defects determining by the wave front scanner / N. S. Goloborodko, V. I. Grygoruk, V. N. Kurashov, D. V. Podanchuk, A. A. Goloborodko, M. M. Kotov // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2010. - Vol. 13, № 1. - С. 65-69. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2010_13_1_14.

Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"

Відділ інформаційно-комунікаційних технологій

Пам`ятка користувача