Наукова періодика України | Металлофизика и новейшие технологии | ||
Boguslavsky D. New Method and Tool for TEM Samples Preparation / D. Boguslavsky, V. Cherepin, Y. Polubotko, C. Smith // Металлофизика и новейшие технологии. - 2013. - Т. 35, № 2. - С. 163-173. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MPhNT_2013_35_2_4 Представлено нову методику і технологію виготовлення зразків для ПЕМ, яка уможливлює підготувати зразок завтовшки до 20 нм, оточений об'ємним матеріалом і втілений у нього. Головна перевага системи полягає в малій товщині шару пошкоджень, спричинених іонним обробленням (менше 2 нм), в малому часі оброблення (1 - 2 години), в моніторингу зразка під час іонного фрезерування (топографія і товщина зразка) і у великій площі, що обробляється (5 - 30 мкм вздовж області, яка являє інтерес). Виконано порівняння декількох типів робочої речовини для іонних джерел, наведено схеми або креслення ключових вузлів пристрою. Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Boguslavsky D. New Method and Tool for TEM Samples Preparation / D. Boguslavsky, V. Cherepin, Y. Polubotko, C. Smith // Металлофизика и новейшие технологии. - 2013. - Т. 35, № 2. - С. 163-173. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MPhNT_2013_35_2_4. Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |