Наукова періодика України | Computational problems of electrical engineering | ||
Borovikov S. Models Describing the Degradation of Functional Parameters of Electronic Devices Based on the Weibull-Gnedenko Distribution / S. Borovikov, E. Schneiderov, I. Burak // Computational problems of electrical engineering. - 2016. - Vol. 6, № 1. - С. 1-8. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/CPoee_2016_6_1_3 Запропоновано можливість одержання математичної моделі деградації функціонального параметра у вигляді умовної густини його 3-параметричного розподілу Вейбула - Гнеденка. Ця модель забезпечує похибку прогнозування надійності для зразків електронних приладів, яка є меншою, ніж похибки після використання моделі деградації на базі нормального розподілу функціонального параметра. Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Borovikov S. Models Describing the Degradation of Functional Parameters of Electronic Devices Based on the Weibull-Gnedenko Distribution / S. Borovikov, E. Schneiderov, I. Burak // Computational problems of electrical engineering. - 2016. - Vol. 6, № 1. - С. 1-8. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/CPoee_2016_6_1_3. Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |