РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»
НОВІ
НАДХОДЖЕННЯ
ПОШУК
РУБРИКАТОР

Бази даних

Реферативна база даних - результати пошуку

Книжкові видання та компакт-диски
Журнали та продовжувані видання
Автореферати дисертацій
Реферативна база даних
Наукова періодика України
Тематичний навігатор
Авторитетний файл імен осіб
Вид пошуку
Сортувати знайдені документи за:
авторомназвоюроком виданнявидом документа
 Знайдено в інших БД:Наукова періодика України (5)
Пошуковий запит: (<.>A=Vladimirova T$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 10
Представлено документи з 1 до 10
1.

Molodkin V. B. Theoretical and experimental principles of the differential-integral triple-crystal X-ray diffractometry of imperfect single crystals. — 1998 // Металлофизика и новейшие технологии.
2.

Molodkin V. B. High-resolution X-ray diffraction investigations of silicon grown by the float-zone method. — 2002 // Металлофизика и новейшие технологии.
3.

Molodkin V. B. X-ray diffraction investigations of InxGa1-xAs1-yNy/GaAs multilayered strucyure. — 2002 // Металлофизика и новейшие технологии.
4.

Prokopenko I. V. Comprehensive investigation of defects in highly perfect silicon single crystals // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2000. - 3, № 3.
5.

Molodkin V. B. Double- and triple-crystal X-ray diffractometry of microdefects in silicon // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2010. - 13, № 4.
6.

Vladimirova T. P. Transformations of microdefect structure in silicon crystals under the influence of weak magnetic field // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2011. - 14, № 4.
7.

Molodkin V. B. Quantum-mechanical model of interconsistent amplitude and dispersion influences of structure imperfections on the multiple-scattering pattern for mapping and characterization of strains and defects in ion-implanted garnet films // Металлофизика и новейшие технологии. - 2015. - 37, № 8.
8.

Molodkin V. B. Dynamical theory of triple-crystal X-ray diffractometry and characterization of microdefects and strains in imperfect single crystals // Металлофизика и новейшие технологии. - 2016. - 38, № 1.
9.

Vladimirova T. Uncertainty of the measurement of level and flow using EHP-TEKNIIKKA measurement system // Системи оброб. інформації. - 2016. - Вип. 6.
10.

Velikhovskyi G. O. Solving of direct and inverse scattering problems for heterogeneous non-crystalline objects in analyzer-based imaging // Metallophysics and Advanced Technologies. - 2019. - 41, № 3.
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського