РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»
Оберіть мову
Ukrainian
Arabic
Armenian
Azerbaijani
Belarusian
Bulgarian
Chinese (Simplified)
Chinese (Traditional)
Czech
Danish
Dutch
English
Estonian
Finnish
French
Georgian
German
Greek
Hebrew
Hindi
Hungarian
Icelandic
Irish
Italian
Japanese
Korean
Latvian
Lithuanian
Norwegian
Persian
Polish
Portuguese
Romanian
Russian
Serbian
Slovak
Slovenian
Spanish
Swahili
Swedish
НОВІ
НАДХОДЖЕННЯ
ПОШУК
РУБРИКАТОР
Бази даних
Реферативна база даних - результати пошуку
Книжкові видання та компакт-диски
Журнали та продовжувані видання
Автореферати дисертацій
Реферативна база даних
Наукова періодика України
Тематичний навігатор
Авторитетний файл імен осіб
Вид пошуку
Ключові слова (без закінчення)
Автор (тільки прізвище)
Назва
Рік видання
Сортувати знайдені документи за:
автором
назвою
роком видання
видом документа
Знайдено в інших БД:
Наукова періодика України (14)
Пошуковий запит:
(<.>A=Nakhodkin M$<.>)
Загальна кількість знайдених документів
:
7
Представлено документи
з 1 до 7
1.
Nakhodkin
M.
Research on surface physics in Ukraine
. — Л., 2000 //
Фіз. зб
.
2.
Konovalov A. M.
Principal component analysis of angular dependences of reflection electron energy loss spectra of Ge
. — 2004 //
Укр. фіз. журн
.
3.
Butariev K. O.
Influence of annealing on the formation and the kinetics of oxidation the interface silicide/Si(001)
//
Вісн. Київ. нац. ун-ту. Сер. Фіз.-мат. науки
. - 2012. - Вип. 4.
4.
Goriachko A.
Bismuth growth on Ge(111): evolution of morphological changes from nanocrystals to films
//
Укр. фіз. журн.
. - 2014. - 59, № 8.
5.
Goriachko A.
Scanning tunneling microscopy investigation of the Si(001)-c(8 x 8) nanostructured surface
//
Укр. фіз. журн.
. - 2015. - 60, № 2.
6.
Goriachko A.
A novel nanopositioning system for scanning probe microscopy
//
Вісн. Київ. нац. ун-ту. Сер. Радіофізика та електроніка
. - 2014. - Вип. 1/2.
7.
Goriachko A.
New features of the Ge(111) surface with CO-existing c(2 x 8) and 2 x 2 reconstructions investigated by scanning tunneling microscopy
//
Укр. фіз. журн.
. - 2015. - 60, № 11.
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України
Всі права захищені ©
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського