РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
у знайденому
Сортувати знайдені документи за:
авторомназвоюроком виданнявидом документа
 Знайдено в інших БД:Книжкові видання та компакт-диски (39)Журнали та продовжувані видання (162)Автореферати дисертацій (7)
Пошуковий запит: (<.>U=К960.4$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 68
Представлено документи з 1 до 20
...
1.

Yatsenko I. V. Determination of optimal modes of electron-beam micro-treatment of surfaces in optic elements // J. of Nano- and Electronic Physics. - 2022. - 14, № 4.
2.

Yatsenko I. V. Electron beam technology in optoelectronic instrumentation: high-quality curved surfaces and microprofile creation in different geometric shapes // J. of Nano- and Electronic Physics. - 2021. - 13, № 4.
3.

Yatsenko I. V. Experimental and statistical models of impact determination of the electron beam parameters on surface layers properties of optical elements in precision instruments building // Пр. Одес. політехн. ун-ту. - 2016. - Вип. 1.
4.

Yatsenko I. V. Improvement of surface layers properties of precision engineering elements of optical ceramics by preliminary electron-beam surfacing // Пр. Одес. політехн. ун-ту. - 2016. - Вип. 2.
5.

Maslov V. P. Influence of elastic deformation on the residual ellipticity of polished optical materials // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2003. - 6, № 4.
6.

Maslov V. P. Influence of elastic deformation on the residual ellipticity of polished optical materials // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2004. - 7, № 2.
7.

Maslov V. P. Optimisation of the technology of polishing of input windows made of optical ceramics KO1, KO12 for IR sensors. — 2005 // Сенсор. електрон. і мікросистем. технології.
8.

Filatov O. Yu. Polishing substrates of single crystal silicon carbide and sapphire for optoelectronics // Functional Materials. - 2016. - 23, № 1.
9.

Prots L. A. Polishing tool with cycloidal movement rotation for the manufacture of flat surfaces working element Li2B4O7 // Вісн. Нац. ун-ту "Львів. політехніка". - 2016. - № 839.
10.

Senchishin V. G. Provision of required functional characteristics for "Tile" type articles at machining // Functional Materials. - 2002. - 9, № 4.
11.

Zinchenko V. F. Structural and spectral features of germanium-based interference optics for infrared range of spectrum. — 2012 // Фізика і хімія твердого тіла.
12.

Haider Ali Muse The advantages of using photonic crystal fibers instead of the conventional fibers in optical gyroscope // Вост.-Европ. журн. передовых технологий. - 2015. - № 2/5.
13.

Маляренко А. Д. Автоматизированное назначение режимов доводки оптических поверхностей. — 1999 // Сверхтвердые материалы.
14.

Петров В. В. Алгоритм моделювання мікропризмових лінз для трансформації світлових потоків // Електрон. моделювання. - 2021. - 43, № 2.
15.

Филатов Ю. Д. Алмазное полирование кристаллических материалов для оптоэлектроники // Сверхтвердые материалы. - 2017. - № 6.
16.

Старик С.  Алмазоподібні вуглецеві плівки в ахроматичних просвітлювальних багатошарових покриттях. — 2005 // Вісн. Львів. ун-ту. Сер. фіз.
17.

Зайцев Е. О. Анализ возможности применения серийно выпускаемых датчиков угловых перемещений в гироскопических системах // Інформ. системи, механіка та керування : наук.-техн. зб. - 2014. - Вип. 11.
18.

Маркіна О. М. Вдосконалення телевізійної вимірювальної системи для визначення геометричних розмірів топологічних елементів типу шкал та сіток : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.01. — Київ, 2015
19.

Яценко І. В. Вдосконалення технології електронної обробки та якості оптичних виробів : Автореф. дис... канд. техн. наук. — К., 2006
20.

Канашевич Г. В. Виникнення напружень у оптичному склі від термоелектричного впливу електронного потоку // Нові матеріали і технології в металургії та машинобуд.. - 2013. - № 2.
...
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського